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在进行动态热循环测试时,如何保证功率半导体测试的可靠性和准确性?
来源:金凯博自动化 发布时间:2024-05-10 类别:技术资讯
信息摘要:

在进行动态热循环测试时,保证测试的可靠性和准确性至关重要。以下是一些关键措施:1. **标准遵循**:遵循相关的行业标准和规范,如JEDEC、AEC-Q100等,这些标准提供了测试方法和参数的指导。2. **测试设备校准**:确...

在进行动态热循环测试时,保证测试的可靠性和准确性至关重要。以下是一些关键措施:

1. **标准遵循**:遵循相关的行业标准和规范,如JEDEC、AEC-Q100等,这些标准提供了测试方法和参数的指导。

2. **测试设备校准**:确保所有测试设备,包括温度控制装置、数据采集系统、测量仪器等,都经过适当的校准和维护,以保证其准确性和可靠性。

3. **控制测试条件**:严格控制测试环境,包括温度、湿度、气氛等,以消除外部因素对测试结果的影响。

4. **重复性和复现性**:进行多次测试,以验证结果的重复性和复现性。确保测试条件的一致性,避免由于操作失误或设备故障导致的数据偏差。

5. **样品准备**:确保测试样品的质量和一致性。对于批量测试,选择具有代表性的样品,并确保样品的安装和连接符合测试要求。

6. **实时监控**:在测试过程中实时监控关键参数,如温度、电压、电流等,确保测试过程中参数的变化在预定范围内。

7. **数据记录和分析**:使用高速数据采集系统记录测试数据,并进行详细的分析,以评估器件的性能和可靠性。

8. **失效分析**:对测试过程中出现故障的器件进行失效分析,以确定故障原因,并据此改进测试方法和设计。

9. **测试报告**:编写详细的测试报告,记录测试条件、测试过程、数据分析和结论,以便于结果的验证和后续的改进。

10. **人员培训**:确保测试人员受过适当的培训,了解测试设备的使用方法和测试程序的执行标准。


通过这些措施,可以最大限度地保证动态热循环测试的可靠性和准确性,为器件的评估和改进提供有效的数据支持。

金凯博第三代功率半导体器件动态可靠性测试系统具有80个测试通道、每个通道独立控制;实时保存测试结果,生成测试报告;具有防烫、过流、过压保护;支持扩展外接标准仪表等众多优势性能。并具有高温高压高频高精度脉冲源:dv/dt>50v/ns、频率50KHz;高精度测试:电流分辨率10pA,电压分辨率100nV;多参数测量:Vsd电压、Vgsth电压、Rds电阻、lgss漏电流、ldss漏电流、温度,功能完备并有可扩展性。

系统优势:

高温高压高精度:dv/dt>50v/ns、频率50KHz;

高精度测试:电流分辨率10pA,电压分辨率100nV;

多参数测量:Vsd电压、Vgsth电压、Rds电阻、Igss漏电流、Idss漏电流、温度;

多通道测试:高效率80通道测试,每个通道独立控制,故障断开及时,互不影响;


软件功能:

功能完备并有可扩展性,基于Windows平台开发,配备工控机系统;

数据管理功能完整,具有操作界面与上位机,可实现数据自动保存与生成测试报告具有漏源极漏电流、温度等检测功能;

可对每一个测试器件独立控制,包含开始、暂停、继续、终止操作功能;

保存与记录试验数据,过冲电压、开关频率、漏电流、温度、故障信号、工作时长、漏源电压变化率等。


保护功能:

上电自测:可实现器件防呆,电路状态;

保护功能:对于带电、高温开箱、过温、测试电参数异常、驱动电路故障等可实现保护功能;

故障隔离:可实现组间的独立性控制,出现故障断开及时,不影响其他器件工作。


功率半导体设备15.jpg


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